Rohkema info nägemiseks:

Dropdown

EE - Eesti
Kõik ettevõtted
    Kõik isikud

      Otsisõna:

      Valdkond/EMTAK

      Mariia Voznesenskaia

      Ettevõtete ärimeedia ja uudisvoog
      Laboriseadmed, optika- ja täppisinstrumendid (v.a klaasid), Difrotec läätsed, Kumerusraadiuse mõõtmised, Optiline disain ja valmistamine, täppisoptiline metroloogia, interferomeetria, optilised testimisteenused, optiline disain, pinnavormi mõõtmine, lainefrondi kvaliteedi hindamine
      ?
      profiili külastust
      179
      ?
      isiku jälgijat
      69

      Featured Image

      OÜ Difrotec on loodud 2009. aastal. Ettevõtte põhitegevuseks on optiliste mõõtmisseadmete tootmine. Ettevõttes on välja töötatud uus, ainulaadne ja patenteeritu

      DIFROTEC OÜ tegevusaruanne 2023

      Andmerobot
      OÜ Difrotec on loodud 2009. aastal. Ettevõtte põhitegevuseks on optiliste mõõtmisseadmete tootmine. Ettevõttes on välja töötatud uus, ainulaadne ja patenteeritud tehnoloogia, mis aitab oluliselt paremini lahendada optika- ja elektroonikatööstuses esilekerkivaid mõõtmisprobleeme. Ettevõtte põhitooteks on difraktsiooniline interferomeeter (point diffraction interferometer) D7 – kõrgtehnoloogiline seade, mis mõõdab optiliste komponentide (nt läätsede, peeglite) ja süsteemide (nt teleskoobid, mikroskoobid) kvaliteeti. Difroteci interferomeeter on maailmas kõige kõrgema mõõtmistäpsusega

      Dropdown

      kõik artiklid
      11706938_difrotec-ou_91137680_a_xl.jpg
      DIFROTEC OÜ / Andmerobot

      Optilise metroloogia tulevik: nanomeetri piiridest kaugemale

      Optiline metroloogia, mõõtmiste teadus valguse abil, on olnud täppistehnika, tootmise ja teadusuuringute nurgakiviks. Võime mõõta omadusi kuni nanomeetri mõõtka
      ssb.ee
      Optiline metroloogia, mõõtmiste teadus valguse abil, on olnud täppistehnika, tootmise ja teadusuuringute nurgakiviks. Võime mõõta omadusi kuni nanomeetri mõõtkavani on võimaldanud areneda täiustatud materjalidel, mikroelektroonikal ja fotonikas. Siiski, kuna tööstused nihutavad miniaturiseerimise ja täpsuse piire, suureneb kiiresti vajadus mõõtmiste järele, mis ületavad nanomeetri mõõtkava. Väljakutsed praeguses nanomeetri mõõtkavas metroloogias Kuigi praegused optilise metroloogia süsteemid on võimelised uskumatule täpsusele, seisavad nad silmitsi piirangutega, kui on vaja mõõta skaalasid,

      Esita kaebus

      Vali kommentaari tunnus, mida arvad, et see sisaldab:

      Väärteave
      Rämpssisu
      Vihakõne
      Terrorism
      Muu

      Soovid teatada sobimatust kommentaarist.

      Kas oled kindel?

      Kas oled kindel, et soovid artikli kustutada?

      Loader

      Loader

      App Ad

      Storybook Chrome laiendus

      Storybooki laiendus ütleb Sulle, mis firma veebilehel Sa parajasti viibid ja kui usaldusväärne see firma täna on. laadi laiendus alla

      Näed helistaja tausta! Storybooki Äpp toob Sinuni otsekontaktid 400 000 Eesti ettevõtte ja isikute kohta (juhid, ametnikud). Andmed on rikastatud maksevõime ja finantsinfoga.